RHK Technology

RHK ist seit über 25 Jahren führender Hersteller von Oberflächenanalysegeräten wie:

• PanScan Cryogen-free LT-STM
• PanScan LT SPM kit
• UHV VT AFM/STM
• UHV LT QuadraProbe(TM)
• AFM/STM/SEM
• PanScan Tesla SPM mit Magnetfeld
• Universelle SPM Steuerelektroniken

Sehen Sie hier das Webinar zur R9 Steuerelektronik.

UHV VT AFM/STM

Vakuum STM oder AFM/STM, Raumtemperatur oder Temperaturvariation, UHV-Systeme inklusive Probenpräparation und weiteren Analysemethoden, Optionen für variables Magnetfeld und für optischen Zugang.

UHV AFM/STM/REM

Navigation der SPM-Spitze unter Beobachtung mit einem Raster-Elektronenmikroskop.

UHV LT QuadraProbe™

Bis zu 4 unabhängige Messspitzen mit atomarer Auflösung, Probe und Spitze kühlbar auf 10K, REM zur Navigation der Messspitzen.

Pan-Style LT STM / TF-AFM-Kit

Scankopf für Tieftemperatureinsatz bis 300 mK, Betrieb in Magnetfeldern, STM oder optional Stimmgabel-AFM, integrierter x/y-Offset.

Pan-Scan Freedom-LT System

Komplettsystem für STM oder AFM/STM im Temperaturbereich 9K-400K mit closed-cycle-Kühlung: keine Kühlmittel-Kosten und unterbrechungsfreie Messung; atomare Auflösung, geringe Drift, gute STS. Weitere Informationen siehe:
http://rhk-tech.com/products/scanning-probe-microscopes/panscanfreedomlt/

Mit freundlicher Genehmigung: Tapaszto Lab – Ungarische Akademie der Wissenschaften, Centre for Energy Research

ATM 300/350

STM oder AFM/STM zum Einsatz an Luft, für kleine Scanweiten und höchste Auflösung, vorbereitet für Upgrade auf UHV.

Weitere Informationen siehe: http://www.rhk-tech.com/ambient-spm/

Universelle SPM-Steuersysteme

Elektronik und Software für SPM-Scanköpfe unterschiedlicher Hersteller oder aus Eigenbau; die aktuellen Modelle R9/R9plus bieten IHDL™ mit „drag and drop“-Zusammenstellung der gewünschten Hardware-Konfiguration.

Weitere Informationen siehe: http://www.rhk-tech.com/r9plus/

PLLPro-Steuerung für NC-AFM

Vollständig digitale Elektronik und Software zur Unterstützung aller AFM-Modi; neueste Version PLLPro 2 ™ schließt Kelvin Probe Microscopy ein.

Aufrüstung bestehender Systeme

Das modulare Konzept erlaubt einfache und kostengünstige Erweiterung der RHK-Systeme:

Von STM auf AFM/STM, von RT auf VT, von externer auf interne Schwingungsdämpfung, von manuellem PPC100 auf digitalen PPC200, von älterer Steuersystem-Hardware und Software auf R9.