News11. März 2019Imina lädt zum Webinar: REM-basiertes Nanoprobing – Charakterisierung von Halbleiterbauelementen

Vom 13.-16. November 2018 stellt Schäfer Technologie GmbH auf der SEMICON Europa aus. Diese findet in diesem Jahr gemeinsam mit der electronica 2018 in München statt. Die SEMICON Europa zieht ein sehr …

News02. Oktober 2018Besuchen Sie uns auf der SEMICON Europa 2018

Die KLA-Tencor Corporation hat die Nanolndenter-Produktlinie von Keysight Technologies übernommen. KLA-Tencor entwickelt und produziert Inspektions-, Mess- und Datenanalyse-Systeme, die auf innovativen …

News02. Oktober 2018KLA-Tencor Corporation übernimmt Nanolndenter-Produktlinie

Die Ungarische Firma CellSorter stellt intelligente Geräte zur Manipulation, Sortierung und Isolierung von einzelnen Zellen mittels Mikropipettierung her (single cell handling, sorting, and Isolation). Die CellSorter …

News13. August 2018CellSorter Produkte neu bei Schaefer-Tec

Dr. Byron Cheatham von CytoViva, USA, hielt auf der diesjährigen Swiss NanoConvention in Fribourg einen viel beachteten Vortrag über …

News19. Juni 2017CytoViva auf der Swiss NanoConvention 2017

Die Mikroskopie Zubehör Produkte von Ted Pella (für REM, AFM, optische Mikroskopie) sind ab sofort in der ganzen Schweiz bei der Schaefer-Tec AG bestellbar. www.tedpella.com

News12. Juni 2017Schaefer-Tec bietet Ted Pella Mikroskopie-Zubehör in der Schweiz an

Mit sofortiger Wirkung hat die Schaefer-Tec Gruppe den Vertrieb der spektroskopischen Ellipsometer für ULVAC übernommen. Die UNECS- Baureihe umfasst sowohl portable, manuelle als auch automatisierte Ellipsometer-Systeme. …

News08. Mai 2017Schaefer-Tec Gruppe übernimmt den Vertrieb der ULVAC Ellipsometer

Am 24./25. April 2017 fand das von der Schaefer Technologie GmbH organisierte Sensofar Users Meeting im Steigenberger Airport Hotel in Langen bei Frankfurt am Main statt. …

News25. April 2017Sensofar Users Meeting in Langen

Phenom-World lanciert das Phenom XL für grosse Proben bis 100×100 mm.

News05. März 2015Phenom-World lanciert das Phenom XL

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Rastersondenmikroskopie
Rastersondenmikroskopie erstellen das Bild der zu untersuchenden Oberfläche mittels der Wechselwirkung zwischen Sonde und Probe. Erfahren Sie mehr
3D-Profilometer
3D-Profilometer dienen der Darstellung von Oberflächen mittels 3-dimensionaler Bilder, die Sie anschließend aus jeder Perspektive betrachten können.
Elektronenmikroskopie
Phenom Tisch-Elektronenmikroskope und Delphi CLEM sowie in-situ AFM (Correlative Probe and Electron Microscopy).
LEED/AES Spektrometrie
Die LEED und AES Systeme von OCI zur Aufnahme von Isolatoren, Halbleitern, Metallen und SAM-Oberflächen und Auswertesoftware.
Nanoindentation und Tribologie
Tribometer dienen der Messung von Reibung und Verschleiß und der Berechnung der erforderlichen Schmierung zwischen den Oberflächen.
Single Cell Isolation
Eine neue Technik zeigt, dass so-wohl fluoreszierende als auch un-markierte lebende Zellen, die mit einem Mikroskop beobachtet wer-den, automatisch vom Bilderken-nungssystem detektiert und von einer computer-gesteuerten Mikro-pipette aufgenommen werden können.
Live Cell Imaging / Manipulation
Schichtdickenmessung
Die Schwingquartz-Methode zur Messung und Regelung von Schichtdicken und Beschichtungsraten.
Partikelmessung
Messverfahren zur Qualifizierung und Quantifizierung wie zum Beispiel von Stäuben, Nanopartikel, Viren, Bakterien und Elementarteilchen.
Durchfluss messen & regeln
Durchflussmesser und -regler für Labor- und Industrieanwendungen. Eine massenbasierte Messung des Gasflusses garantiert Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und Stabilität.
Messtechnik - Magnetik - Vakuum
Erfahren Sie mehr über unsere Produkte zur Messung von Magnetfeldern, über Beschichtungsprozesse und Vakuum-Systeme.

Die Schaefer Technologie Gruppe

Ihr Partner für viele wissenschaftliche Geräte und Messgeräte

Die Schaefer Technologie GmbH (Schaefer-Tec Gruppe) zählt zu einem der führenden Handels- und Beratungsunternehmen und vertritt in Deutschland und vielen anderen europäischen Staaten führende und namhafte Hersteller für Systeme der Elektronenmikroskopie und Rastersondenmikroskopie, für Nanoindenter, optische und taktile Profilometer, Geräte zur Partikel- und Nanopartikel-messung oder zur Spektrometrie.

Unsere Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter beraten Anwender bereits im Vorfeld und begleiten sie bis zur Entscheidung des am besten geeignetsten Verfahrens zur Lösung der bevorstehenden Aufgaben. Dabei führen wir in unseren eigenen Labors Probearbeiten aus und führen Machbarkeitsstudien zur Eignung des ausgewählten Systems durch.

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