CytoViva® Dunkelfeld- und Hyperspektralmikroskopie
Der patentierte CytoViva® Dunkelfeldkondensor ermöglicht die Visualisierung nanoskaliger Objekte (Metalle, Oxide, Polymere, Viren oder Liposome) ganz ohne Fluoreszenzmarkierung. Mittels eines Spektrographen (VNIR 400-1000nm oder SWIR 900-1700nm) können die entsprechenden Nano-Materialien charakterisiert und klassifiziert werden.
Die CytoViva®-Technologie funktioniert in unterschiedlichsten Substraten und Umgebungen (z.B. in Zellen, Gewebe, alle Arten von Flüssigkeiten). Die Hyperspektrale Analyse ist sehr sensitiv auf chemischen Eigenschaften der streuenden Objekte und ist z.B. in der Lage Oberflächenmodifizierungen (funktionelle Gruppen) individuell auf einzelnen Nanopartikeln zu bestimmen.
CytoViva® Mess- und Auswerteprinzip
- Hochaufgelöstes Dunkelfeldbild mit sehr großem Signal zu Rausch Verhältnis
- Zeilenweise Hyperspektralbild-Aufnahme mit X-Y-Scantisch und Spektrographen
- Erstellen von Spectral Libraries aus den Positivdaten
- Spectral Angular Mapper Prozedur zum Mapping der Positivdaten im Hyperspektralbild
CytoViva® Einführung CytoViva® Webinar
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CytoViva® Erweiterte Dunkelfeldmikroskopie
CytoViva® Hyperspektralmikroskop
CytoViva® 3D Erweiterte Dunkelfeld-Bildgebung
CytoViva® Integrierte Raman & Hyperspektral-Mikroskopie
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Nanopartikel-Dunkelfeld-Hyperspektral-Bild Digitale Pathologie Nano-Drug-Delivery
Mikrobiologie & Virologie
Weitere Anwendungen:
- Nanotoxizität von Partikeln in Zellkulturen
- Bestimmung funktioneller Gruppen auf Drug Delivery-Partikeln
- Drug Loaded Liposomes
- Partikel für Biosensoren
- Mikroplastik in der Umwelt und in Gewebe
- Implantatabrieb in Gewebe
- Carbon Nanotubes
- Wafer Defektanalyse
Weiterführende Links:
- Diverse Applikationsbeispiele im CytoViva Youtube-Kanal
- Publizierte Resultate zum Vergleich mit REM-EDS sowie Raman-Spektroskopie www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26864497 und als Video http://www.jove.com/video/53317
Geräteoptionen:
- Dual Mode Fluorescence zum simultanen Betrachten fluoreszierender und streuender Probenbereiche
- 3D Enhanced Darkfield Imaging
- Makro-System zur Wafer-Defektanalyse