RHK Technology

RHK ist seit über 25 Jahren führender Hersteller von Oberflächenanalysegeräten wie:

  • PanScan Cryogen-free LT-STM
  • PanScan LT SPM kit
  • UHV VT AFM/STM
  • UHV LT QuadraProbe(TM)
  • AFM/STM/SEM
  • PanScan Tesla SPM mit Magnetfeld
  • Universelle SPM Steuerelektroniken

Sehen Sie hier das Webinar zur R9 Steuerelektronik.

UHV VT AFM/STM

Vakuum STM oder AFM/STM, Raumtemperatur oder Temperaturvariation, UHV-Systeme inklusive Probenpräparation und weiteren Analysemethoden, Optionen für variables Magnetfeld und für optischen Zugang.

RHK UHV 7500 mit zusätzlichen Oberflächenanalyse-Möglichkeiten und Erfassung optischer Daten

UHV AFM/STM/REM

Navigation der SPM-Spitze unter Beobachtung mit einem Raster-Elektronenmikroskop.

UHV AFM/STM/REM
REM-Aufnahme der STM Spitze über einem Gold-Gitter

UHV LT QuadraProbe™

Bis zu 4 unabhängige Messspitzen mit atomarer Auflösung, Probe und Spitze kühlbar auf 10K, REM zur Navigation der Messspitzen.

Messspitze über einem Schaltkreis
Manipulation von Nanotubes

Pan-Style LT STM / TF-AFM-Kit

Scankopf für Tieftemperatureinsatz bis 300 mK, Betrieb in Magnetfeldern, STM oder optional Stimmgabel-AFM, integrierter x/y-Offset.

Pan-Style LT STM

Pan-Scan Freedom-LT System

Komplettsystem für STM oder AFM/STM im Temperaturbereich 9K-400K mit closed-cycle-Kühlung: keine Kühlmittel-Kosten und unterbrechungsfreie Messung; atomare Auflösung, geringe Drift, gute STS. Weitere Informationen siehe:
http://rhk-tech.com/products/scanning-probe-microscopes/panscanfreedomlt/

ATM 300/350

STM oder AFM/STM zum Einsatz an Luft, für kleine Scanweiten und höchste Auflösung, vorbereitet für Upgrade auf UHV.

Weitere Informationen siehe: http://www.rhk-tech.com/ambient-spm/

ATM 300/350

Universelle SPM-Steuersysteme

Elektronik und Software für SPM-Scanköpfe unterschiedlicher Hersteller oder aus Eigenbau; die aktuellen Modelle R9/R9plus bieten IHDL™ mit „drag and drop“-Zusammenstellung der gewünschten Hardware-Konfiguration.

Weitere Informationen siehe: http://www.rhk-tech.com/r9plus/

Universelles SPM-Steuersystem
R9

PLLPro-Steuerung für NC-AFM

Vollständig digitale Elektronik und Software zur Unterstützung aller AFM-Modi; neueste Version PLLPro 2 ™ schließt Kelvin Probe Microscopy ein.

PLLPro-Steuerung für NC-AFM

Aufrüstung bestehender Systeme

Das modulare Konzept erlaubt einfache und kostengünstige Erweiterung der RHK-Systeme:

Von STM auf AFM/STM, von RT auf VT, von externer auf interne Schwingungsdämpfung, von manuellem PPC100 auf digitalen PPC200, von älterer Steuersystem-Hardware und Software auf R9.

schließen

Wählen Sie Ihr Land

Wählen Sie Ihr Land

Sie suchen nach Produkten? Dann wählen Sie bitte aus der oben aufgeführten Liste das Land aus, in dem Sie sich befinden bzw. in das wir unsere Produkte liefern sollen.

Select your country

Are you looking for products? Then select the country in which you are located or in which to deliver our products from the above list.

Sélectionnez votre pays

Vous recherchez pour les produits? Alors s'il vous plaît sélectionner dans la liste ci-dessus? Mentionné le pays dans lequel vous vous trouvez ou dans laquelle nous voulons livrer nos produits.