RHK Technology

RHK ist seit über 25 Jahren führender Hersteller von Oberflächenanalysegeräten wie:

  • PanScan Cryogen-free LT-STM
  • PanScan LT SPM kit
  • UHV VT AFM/STM
  • UHV LT QuadraProbe(TM)
  • AFM/STM/SEM
  • Nano-Optische/naop-Spektroskopie SPM
  • Universelle SPM Steuerelektroniken

Sehen Sie hier das Webinar zur R9 Steuerelektronik.

UHV VT AFM/STM

Vakuum STM oder AFM/STM, Raumtemperatur oder Temperaturvariation, UHV-Systeme inklusive Probenpräparation und weiteren Analysemethoden, Optionen für variables Magnetfeld und für optischen Zugang.

RHK UHV 7500 mit zusätzlichen Oberflächenanalyse-Möglichkeiten und Erfassung optischer Daten

UHV AFM/STM/REM

Navigation der SPM-Spitze unter Beobachtung mit einem Raster-Elektronenmikroskop.

UHV AFM/STM/REM
REM-Aufnahme der STM Spitze über einem Gold-Gitter

UHV LT QuadraProbe™ (Abb.D und Abb.E)

Bis zu 4 unabhängige Messspitzen mit atomarer Auflösung, Probe und Spitze kühlbar auf 10K, REM zur Navigation der Messspitzen.

Messspitze über einem Schaltkreis
Manipulation von Nanotubes

Pan-Style LT STM / TF-AFM-Kit

Scankopf für Tieftemperatureinsatz bis 300 mK, STM oder optional Stimmgabel-AFM, integrierter x/y-Offset.

Pan-Style LT STM

Pan-Scan Freedom-LT System

Komplettsystem für STM oder AFM/STM im Temperaturbereich 15K-400K mit closed-cycle-Kühlung: keine Kühlmittel-Kosten und unterbrechungsfreie Messung; atomare Auflösung, geringe Drift, gute STS. Weitere Informationen siehe:
http://rhk-tech.com/products/scanning-probe-microscopes/panscanfreedomlt/

ATM 300/350

STM oder AFM/STM zum Einsatz an Luft, für kleine Scanweiten und höchste Auflösung, vorbereitet für Upgrade auf UHV.

ATM 300/350

Universelle SPM-Steuersysteme

Elektronik und Software für SPM-Scanköpfe unterschiedlicher Hersteller oder aus Eigenbau; neuestes Modell R9 bietet IHDL™ mit „drag and drop“-Zusammenstellung der gewünschten Hardware-Konfiguration.

Universelles SPM-Steuersystem
R9

PLLPro-Steuerung für NC-AFM (Abb.J)

Vollständig digitale Elektronik und Software zur Unterstützung aller AFM-Modi; neueste Version PLLPro 2 ™ schließt Kelvin Probe Microscopy ein.

PLLPro-Steuerung für NC-AFM

Aufrüstung bestehender Systeme

Das modulare Konzept erlaubt einfache und kostengünstige Erweiterung der RHK-Systeme:

Von STM auf AFM/STM, von RT auf VT, von externer auf interne Schwingungsdämpfung, von manuellem PPC100 auf digitalen PPC200, von älterer Steuersystem-Hardware und Software auf R9.

Anwendung

UHV STM und AFM bei Raumtemperatur oder variabler Temperatur bis 10K (Probe und Spitze) bzw. bis 1500K. Variables Magnetfeld. Optischer Zugang.

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