Desktop-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX Option

Die Phenom Elektronenmikroskope sind nicht nur kleiner, einfacher und preisgünstiger als ein Großgerät, sie sind dank dem geringen Vakuum in der Probenkammer auch viel schneller und benötigen keine Beschichtung von nichtleitenden Oberflächen.

Die Produktepalette umfasst:

            • Phenom XL (für große Proben bis 100x100mm, 62mm Höhe)
            • Phenom Pro, ProX, Pure (Vergrößerung bis 350’000 x, Auflösung 6-8nm)
            • Phenom Pharos (Feldemissionsquelle für höchste Auflösung, Vergrößerung bis 2’000’000 x !)
            • Phenom GSR (Automatische Gunshot Residue Analyse für forensische Schmauchspurenanalyse)
            • Phenom Particle X (Automatisierte Partikelanalyse gemäß VDA19/ISO16232 für Technische Reinheit und Additive Manufacturing)
            • Axia ChemiSEM (Großgerät für große Proben bis 10kg Gewicht)

Als Option sind für alle Geräte ein SED und EDX Detektor verfügbar und die Beschleunigungsspannung kann von 4.8 bis 20.5 kV variiert werden.

Unter dem folgenden Link ( How to Choose a SEM E-guide ) finden Sie Tipps zur Auswahl eines Elektronenmikroskops.

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PHENOM PRO, ProX (350’000x, <8nm Auflösung, EDX Elementanalyse)

  • Exzellente Bildqualität dank CeB6 Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
  • Ca. 1500 Betriebsstunden des Filaments (4-6 Jahre typischer Einsatz)
  • Vergrößerung bis 350’000x (plus 12x digitales Zoom)
  • Variable Beschleunigungsspanung (beim ProX und XL)
  • EDX Elementanalyse (optional bei Phenom Pro und Pure)
  • Optionaler SED Detektor
  • Schnelle Probenpräparation
  • Einfaches und schnelles Probenschleusen (10-15 Sekunden)
  • Intuitive Navigation
  • Motorisierter präzisions-XY Tisch
  • Farb CCD Kamera inkl. Zoom 20x bis 120x (PRO und ProX)
  • Kompakte, platzsparende Bauweise; unkomplizierte Bedienung
  • Als Optionen 3D Darstellung, Rauheitsmessung, Stitching und automatische Faserquerschnittsmessung

ParticleMetric Software (Vermessung von Partikeln)

 

 

Phenom XL G2 (200’000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen)

  • Exzellente Bildqualität dank CeB6 Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
  • Ca. 1500-2000 Betriebsstunden des Filaments (4-6 Jahre typischer Einsatz)
  • Vergrößerung bis 200’000 x (plus 12x digitales Zoom)
  • Variable Beschleunigungsspanung (beim ProX und XL)
  • EDX Elementanalyse (optional)
  • Optionaler SED Detektor
  • Schnelle Probenpräparation
  • Einfaches und schnelles Probenschleusen (30-40 Sekunden)
  • Intuitive Navigation
  • Motorisierter präzisions-XY Tisch
  • Farb CCD Kamera inkl. Zoom bis 16 x
  • Kompakte, platzsparende Bauweise; unkomplizierte Bedienung
  • Als Optionen 3D Darstellung, Rauheitsmessung, Stitching, automatische Faserquerschnittsmessung, Partikel- und Poren- Vermessung sowie automatisierte Asbest- Filteranalyse.

 

Phenom Pharos G2 FEG-SEM (2’000,000 x, 2nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen)

  • FELDEMISSIONSQUELLE mit EXZELLENTER Auflösung
  • KOMPETITIV MIT FLOOR-MODELLEN
  • Hochvakuummodus
  • Mittelvakuummodus
  • Integrierter Ladungsreduktionsmodus (Niedervakuummodus)
  • Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV
  • Erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 1 kV und 20 kV
  • Rückstreuelektronendetektor (Standard)
  • Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS/EDX) (optional)
  • Sekundärelektronendetektor (Everhart Thornley-optional)
  • Probengröße bis zu 25 mm Durchmesser (32 mm optional)
  • Probenhöhe bis zu 35 mm (100 mm optional)

Phenom GSR (Schmauchspurenanalyse in Forensik, ASTM E1588-17 kompatibel)

  • Probengröße max. 100 mm x 100 mm (bis zu 30 x 12 mm Pin Stubs), max. 40 mm (Höhe)
  • Softwarespezifikationen:
    • Entspricht ASTM E1588-17
    • Typischerweise ≥ 98 % Trefferquote bei künstlicher Plano-GSR-Probe
    • Unterstützt die Klassifizierung bleifreier Munitionstypen
    • Automatische Kalibrierungen für reproduzierbare Ergebnisse
  • Detektortypen
    • Silizium-Drift-Detektor (SDD)
    • Thermoelektrisch gekühlt (LN2-frei)
  • Reporting-Workflow: Partikelverschiebung, Überprüfung und benutzerdefinierte Berichterstellung
  • Bildgebungs-Modul: 316 (B) x 587 (T) x 625 (H) mm

Phenom Particle X (200’000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen)

  • Exzellente Lösung für zuversichtliche MATERIALANALYSE, z.B. bei der AUTOMOTIVEN INDUSTRIE
  • Technische Reinheitsüberprüfung auf Mikrometer-Skala dank EDX Analyse
  • Beschleunigungsspannungen:
    • Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV (erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 4,8 kV und 20,5 kV)
  • Vakuumstufen
    • Niedrig
    • Mittel
    • Hoch
  • Detektoren:
    • Rückstreuelektronendetektor (Standard)
    • Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) (Standard)
    • Sekundärelektronendetektor (Everhart-Thornley-Detektor, optional)
  • Probengröße:
    • max. 100 mm x 100 mm (bis zu 36 x 12 mm Stiftprobenteller)
    • max. 40 mm (h)
  • Beispielladezeit
    • Lichtoptisch <5 s
    • Elektronenoptisch <60 s

Axia ChemiSEM (1’000’000x Polaroid Vergrößerung, bis auf 3 nm Auflösung, ideal für EDX Analyse)

  • Semi-Floor-Model
  • Wartungsfreunlich (die Quelle kann einfach durch den Nutzer selbst ausgetauscht werden)
  • Motorisierter, einziehbarer Rückstreudetektor
  • TrueSight EDS-Detektor
  • Nav-Cam Kamera – optische Farbkamera für die Probennavigation
  • Manuelle Benutzeroberfläche
  • IR-Kammerkamera
  • Maps Software für Tiling und Stitching (Nebeneinanderanordnen und Zusammenfügen)
  • Elektronenstrahlauflösung:
    • 3,0 nm bei 30 kV (SE)
    • 3,0 nm bei 30 kV (SE) (Niedervakuum)
    • 8,0 nm bei 3 kV (SE)
    • 7,0 nm bei 3 kV (BD-Modus* + BSE)
  • Kammer:
    • Innenbreite: 280 mm
  • Anschlüsse: ein Axia ChemiSEM Rasterelektronenmikroskop mit BSED und EDS bietet 5 verfügbare Anschlüsse
  • Objekttisch:
    • xy: 120 x 120 mm
    • Neigung: -15 bis +90 Grad
    • Drehung: n x 360°
    • Bei entfernten ZTR-Achsen:
      • Max. Probenhöhe: 128 mm
      • Max. Probengewicht: 10 kg
  • Übliche Optionen
    • Strahlabbremsungsmodus (Beam Deceleration Mode)
    • CleanHeater Objekttisch (bis zu 1.100 °C)
    • Kathodolumineszenzdetektor
    • AutoScript 4 Software – auf Python basierende Anwendungsprogrammierschnittstelle
    • Thermo Scientific TopoMaps Software für die Bildfärbung, Bildanalyse und 3D-Oberflächenrekonstruktion

Anwendung

  • Pharmazeutische Industrie
  • Pulver
  • Partikelgrössenmessung, Nanopartikel
  • Metallurgische Analysen
  • Prozesskontrolle
  • Qualitätskontrolle
  • Forschungslabors
  • Fibermetric für die Analyse von Textilfasern
  • Asbestanalyse nach VDI 3492 (mit AsbestosScan Software)
  • Technische Reinheit nach VDA19 / ISO16232
  • Additive Fertigung (Qualitätskontrolle)
  • Tisch-REM, Tisch-Elektronenmikroskop, Tabletop-REM
  • EDX, EDS

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