Probenpräparation für SEM und TEM
Für SEM-Anwender:
SEMPrep Smart
Ionenätz-System der neuen Generation für Schrägschnitte und schadenfreies Polieren der Probenoberfläche für SEM- und EBSD-Anwender
- Einfache und automatisierte Bedienung
- Größter Energiebereich auf dem Markt (<100 eV-16 keV)
- Einzigartige vorgekippte Probenhalter für Schrägschnitte (30°, 90°)
- +/- 1 µm Positioniergenauigkeit für Cross-Section
- Probengröße bis 50mm Durchmesser
- Load-Lock-System für schnellen Probenaustausch
- Optionale Vakuumübertragungseinheit
- Kühloption für flüssigen Stickstoff oder Peltier
- Ölfreies Vakuumsystem
Für TEM-Anwender:
UniMill
Vollständig automatisiertes System zum Ionenätzen zur TEM/XTEM-Probenpräparation
- Einfache und automatisierte Bedienung
- Größter Energiebereich auf dem Markt (100 eV – 16 keV)
- Automatischer Perforationsdetektor
- Load-Lock-System für schnellen Probenaustausch
- Option zur Kühlung mit flüssigem Stickstoff
- Online-Überwachung und -Support
Gentle Mill
Ionenstrahl-Anlage zum finalen Reinigen und End-Polieren von TEM/FIB-Proben höchster Qualität
- Automatisierter Betrieb
- Der letzte Schritt für ein perfektes Ergebnis
- Vakuumtransfer-Shuttle
- Spezialadapter für Hitachi-Mikroskope
- Online-Überwachung und -Support
MAG*I*CAL
Rückverfolgbare Kalibrierprobe für Transmissions-Elektronen-Mikroskopie
TiDisc
Spezielle Vorrichtung zur Einbettung von TEM/XTEM -Proben
