Rastersondenmikroskopie
Elektronenstrahlung statt Licht
Rastersondenmikroskopie (englisch scanning probe microscopy, SPM) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei denen das Bild nicht mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung (Linse) erzeugt wird wie beim Lichtmikroskop (LM) oder dem Rasterelektronenmikroskop (REM), sondern über die Wechselwirkung einer sogenannten Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt.
Durch dieses Verfahren können Auflösungen bis zu 10 Pikometer (pm) erreicht werden (Atome haben eine Größe im Bereich von 100 pm). Lichtmikroskope sind durch die Wellenlänge des Lichts beschränkt und erreichen in der Regel nur Auflösungen von ca. 200 bis 300 nm, also etwa der halben Wellenlänge des Lichts. Beim Rasterelektronenmikroskop verwendet man deshalb statt Licht Elektronenstrahlung. Hier kann die Wellenlänge durch Erhöhung der Energie zwar theoretisch beliebig klein gemacht werden, allerdings wird dann der Strahl so „hart“, dass er die Probe zerstören würde.
Park System
Physiologische Phänomene lebender Zellen im Nanomassstab erforschen. Park NX-Bio bietet dies mit der innovativen „Scanning Ion Conductance Microscopy“ (SICM) und der hochstehenden Atomic Force Microscopy (AFM) Technologie.
RHK
RHK ist führender Hersteller von Oberflächenanalysegeräten wie den Systemen PanScan Cryogen-free LT-STM und LT SPM kit, UHV VT AFM / STM, UHV LT QuadraProbe, AFM / STM / SEM, naop-Spektroskopie SPM oder Universelle SPM Steuerelektroniken.
AFM
Für Forscher mit größeren Ideen als Budgets: die Produkte von AFM. Das Produktspektrum umfasst ein Kit, zum Zusammenzubauen, Scanner für große Proben und Wafer, stand-alone AFM zum Aufsetzen auf große Proben und das Life-Science AFM.
nanoAnalytics
Das QFM Modul erweitert die Messmodi von kommerziellen AFM-Systemen um Arbeitsmodi wie CE-Modus mit konstanter Anregung , AM-Modus mit Q-Control, Kraftabstandskurven im CE-Modus oder das bewährte Q-Control Modul als Aufrüstpaket für AFM.
