MikroMasch

Rastersondenmikroskopie
Innovative Solutions Bulgaria Ltd.
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Mikromasch AFM Spitzen und Kalibrierproben

Mikromasch stellt diverse AFM Spitzen und Kalibrierproben her.

  • HQ:NSC, HQ:CSC und HQ:XSC (Spitzenradius <10nm)
  • HI’RES (Spitzenradius 1nm)
  • DPE (Leitfähig, robust)
  • DPER (Leitfähig, hohe Auflösung)
  • Hard (sehr dauerhaft)
  • Diverse Beschichtungen sind erhältlich

Mikromasch AFM Spitzen und Kalibriergitter sind für die meisten AFM Typen geeignet. Kontaktieren Sie uns, um sich zu vergewissern, ob sie sich für Ihr AFM eignen.

Anwendung

AFM Messspitzen und Kalibrierproben

Spezifikation

HI-RES Cantilever
HQ:NSC Typ Cantilever, ein Balken

Kalibrierproben

AFM Kalibrierproben

  • Porous Aluminium
  • TGX (laterale Kalibrations)
  • TGG (dreieckige Strukturen für laterale Kalibration und Spitzencharakterisierung)
  • TGZ (Stufen 20 nm bis 1500 nm)
  • TGF (trapezoidale Stufen zur Kalibrierung von Flankenkenwinkeln)
  • HOPG (Graphit)

Anwendung

Kalibrieren von AFM und STM
Ueberprüfen der Spitzenschärfe und Geometrie

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