Schaefer Group

PHENOM PRO, ProX (350’000x, <8nm Auflösung, EDX Elementanalyse)

• Exzellente Bildqualität dank CeB₆ Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
• Ca. 1500 Betriebsstunden des Filaments (4-6 Jahre typischer Einsatz)
• Vergrößerung bis 350’000x (plus 12x digitales Zoom)
• Variable Beschleunigungsspanung (beim ProX und XL)
• EDX Elementanalyse (optional bei Phenom Pro und Pure)
• Optionaler SED Detektor
• Schnelle Probenpräparation
• Einfaches und schnelles Probenschleusen (10-15 Sekunden)
• Intuitive Navigation
• Motorisierter präzisions-XY Tisch
• Farb CCD Kamera inkl. Zoom 20x bis 120x (PRO und ProX)
• Kompakte, platzsparende Bauweise; unkomplizierte Bedienung
• Als Optionen 3D Darstellung, Rauheitsmessung, Stitching und automatische Faserquerschnittsmessung

ParticleMetric Software (Vermessung von Partikeln)

Phenom XL G2 (200’000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen)

• Exzellente Bildqualität dank CeB₆ Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
• Ca. 1500-2000 Betriebsstunden des Filaments (4-6 Jahre typischer Einsatz)
• Vergrößerung bis 200’000 x (plus 12x digitales Zoom)
• Variable Beschleunigungsspanung (beim ProX und XL)
• EDX Elementanalyse (optional)
• Optionaler SED Detektor
• Schnelle Probenpräparation
• Einfaches und schnelles Probenschleusen (30-40 Sekunden)
• Intuitive Navigation
• Motorisierter präzisions-XY Tisch
• Farb CCD Kamera inkl. Zoom bis 16 x
• Kompakte, platzsparende Bauweise; unkomplizierte Bedienung
• Als Optionen 3D Darstellung, Rauheitsmessung, Stitching, automatische Faserquerschnittsmessung, Partikel- und Poren- Vermessung sowie automatisierte Asbest- Filteranalyse.

Phenom Pharos G2 FEG-SEM (2’000,000 x, 2nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen)

• FELDEMISSIONSQUELLE mit EXZELLENTER Auflösung
• KOMPETITIV MIT FLOOR-MODELLEN
• Hochvakuummodus
• Mittelvakuummodus
• Integrierter Ladungsreduktionsmodus (Niedervakuummodus)
• Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV
• Erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 1 kV und 20 kV
• Rückstreuelektronendetektor (Standard)
• Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS/EDX) (optional)
• Sekundärelektronendetektor (Everhart Thornley-optional)
• Probengröße bis zu 25 mm Durchmesser (32 mm optional)
• Probenhöhe bis zu 35 mm (100 mm optional)

Phenom GSR (Schmauchspurenanalyse in Forensik, ASTM E1588-17 kompatibel)

• Probengröße max. 100 mm x 100 mm (bis zu 30 x 12 mm Pin Stubs), max. 40 mm (Höhe)
• Softwarespezifikationen:
  • Entspricht ASTM E1588-17
  • Typischerweise ≥ 98 % Trefferquote bei künstlicher Plano-GSR-Probe
  • Unterstützt die Klassifizierung bleifreier Munitionstypen
  • Automatische Kalibrierungen für reproduzierbare Ergebnisse
• Detektortypen
  • Silizium-Drift-Detektor (SDD)
  • Thermoelektrisch gekühlt (LN₂-frei)
• Reporting-Workflow: Partikelverschiebung, Überprüfung und benutzerdefinierte Berichterstellung
• Bildgebungs-Modul: 316 (B) x 587 (T) x 625 (H) mm

Phenom Particle X (200’000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen)

• Exzellente Lösung für zuversichtliche MATERIALANALYSE, z.B. bei der AUTOMOTIVEN INDUSTRIE
• Technische Reinheitsüberprüfung auf Mikrometer-Skala dank EDX Analyse
• Beschleunigungsspannungen:
  • Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV (erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 4,8 kV und 20,5 kV)
• Vakuumstufen
  • Niedrig
  • Mittel
  • Hoch
• Detektoren:
  • Rückstreuelektronendetektor (Standard)
  • Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) (Standard)
  • Sekundärelektronendetektor (Everhart-Thornley-Detektor, optional)
• Probengröße:
  • max. 100 mm x 100 mm (bis zu 36 x 12 mm Stiftprobenteller)
  • max. 40 mm (h)
• Beispielladezeit
  • Lichtoptisch <5 s
  • Elektronenoptisch <60 s

Axia ChemiSEM (1’000’000x Polaroid Vergrößerung, bis auf 3 nm Auflösung, ideal für EDX Analyse)

• Semi-Floor-Model
• Wartungsfreunlich (die Quelle kann einfach durch den Nutzer selbst ausgetauscht werden)
• Motorisierter, einziehbarer Rückstreudetektor
• TrueSight EDS-Detektor
• Nav-Cam Kamera – optische Farbkamera für die Probennavigation
• Manuelle Benutzeroberfläche
• IR-Kammerkamera
• Maps Software für Tiling und Stitching (Nebeneinanderanordnen und Zusammenfügen)
• Elektronenstrahlauflösung:
  • 3,0 nm bei 30 kV (SE)
  • 3,0 nm bei 30 kV (SE) (Niedervakuum)
  • 8,0 nm bei 3 kV (SE)
  • 7,0 nm bei 3 kV (BD-Modus* + BSE)
• Kammer:
  • Innenbreite: 280 mm
• Anschlüsse: ein Axia ChemiSEM Rasterelektronenmikroskop mit BSED und EDS bietet 5 verfügbare Anschlüsse
• Objekttisch:
  • xy: 120 x 120 mm
  • Neigung: -15 bis +90 Grad
  • Drehung: n x 360°
  • Bei entfernten ZTR-Achsen:
    • Max. Probenhöhe: 128 mm
    • Max. Probengewicht: 10 kg
• Übliche Optionen
  • Strahlabbremsungsmodus (Beam Deceleration Mode)
  • CleanHeater Objekttisch (bis zu 1.100 °C)
  • Kathodolumineszenzdetektor
  • AutoScript 4 Software – auf Python basierende Anwendungsprogrammierschnittstelle
  • Thermo Scientific TopoMaps Software für die Bildfärbung, Bildanalyse und 3D-Oberflächenrekonstruktion

Anwendung

• Pharmazeutische Industrie
• Pulver
• Partikelgrössenmessung, Nanopartikel
• Metallurgische Analysen
• Prozesskontrolle
• Qualitätskontrolle
• Forschungslabors
• Fibermetric für die Analyse von Textilfasern
• Asbestanalyse nach VDI 3492 (mit AsbestosScan Software)
• Technische Reinheit nach VDA19 / ISO16232
• Additive Fertigung (Qualitätskontrolle)
• Tisch-REM, Tisch-Elektronenmikroskop, Tabletop-REM
• EDX, EDS