Die in-situ Indenter von KLA Instruments™ erlauben Indentationen sowie Kompressions- und andere mechanische Tests unter definierten Umgebungen innerhalb von Rasterelektronenmikroskopen (SEMs) und fokussierten Ionenstrahlsystemen (FIB) oder Stand-alone Vakuumkammern.

 

NanoFlip

Der NanoFlip Indenter misst Härte, Modul und Streckgrenze und erlaubt vielseitige nanomechanische Tests sowohl unter Umgebungs- als auch unter Vakuumbedingungen. Darüber hinaus kann der NanoFlip auch unter optischen Mikroskopen, Rasterkraftmikroskopen (AFMs) und 3D-Profilometern eingesetzt werden.

Der NanoFlip kommt überall dort zum Einsatz, wo das synchrone Aufzeichnen von mechanischen Tests und bildgebenden Verfahren von Bedeutung ist oder zeitkritische Messungen durchgeführt werden, die für das Testen heterogener Materialien in inerten Umgebungen von entscheidender Bedeutung sind (z. B. in Gloveboxen) .

Die revolutionäre FIB-to-Test-Technologie ermöglicht es, die Probe um 90 ° zu kippen, um einen nahtlosen Übergang vom FIB zur Indeation oder Kompression zu ermöglichen, ohne die Probe entfernen zu müssen.

InSEM® HT

Das InSEM® HT-System misst die Härte, den Modul und die Steifheit bei hohen Temperaturen, indem sowohl die Spitze als auch die Probe unabhängig voneinander erhitzt werden. Die mitgelieferte InView-Software hilft fortgeschrittenen Forschern bei der Entwicklung neuartiger Experimente.

Bei Temperaturen von bis zu 800 ° C können extreme Temperaturbedingungen in situ simuliert werden, um konsistente, zuverlässige Testdaten zu erhalten. Die verwendetetn einkristallinen Wolframcarbidspitzen auf einem Molybdänhalter sind für den Einsatz in Hochtemperatur-Testanwendungen optimiert und in verschiedenen Geometrien erhältlich.

Wissenschaftliche Veröffentlichungen zeigen, dass die Ergebnisse gut mit herkömmlichen Hochtemperatur-Testdaten in großem Maßstab übereinstimmen. Die Kombination aus großem Temperaturbereich und niedrigen Betriebskosten macht den InSEM HT zu einem wertvollen Werkzeug in Forschungsprogrammen zur Materialentwicklung.

 

 

 

 

Eigenschaften

  • Aktuator für kapazitive Wegmessung und elektromagnetische Lastaufprägung
  • Einfach und schnell austauschbare Spitzen verschiedenster Geometrien
  • Hochgeschwindigkeits-Controller-Elektronik mit bis zu 100kHz Datenerfassungsraten und 20µs Zeitkonstante
  • Hochpräzise XYZ-Steuerung zum genauen Anfahren von Probenbereichen
  • Synchronisietung von REM-Bildern mit mechanischen Testdaten
  • Einzigartiges softwareintegriertes Spitzenkalibrierungssystem für schnelle und genaue Spitzenkalibrierung
  • InView-Steuerungs- und Datenanalysesoftware mit Windows ® 10-Kompatibilität
  • Umfassendender Editor zur einfachen Programmierung benutzerdefinierter Experimente

Optionen & Upgrades

 

Continuous Stiffness Measurement (CSM)

The Continuous Stiffness Measurement (CSM) technique satisfies application requirements that must take into account dynamic effects, such as strain rate and frequency.
The CSM option offers a means of separating the in-phase and out-of-phase components of the load-displacement history. The separation provides an accurate measurement of the location of initial surface contact and continuous measurement of contact stiffness as a function of depth or frequency, thus eliminating the need for unloading cycles

 

AccuFilm™ Thin Film Method Pack

An InView test method based on the Hay-Crawford model for measuring substrate-independent material properties using Continuous Stiffness Measurement (CSM). AccuFilm corrects for substrate influence on film measurements for hard films on soft substrates, as well as for soft films on hard substrates.

 

ProbeDMA™ Polymer Method Pack

Provides the ability to measure the complex modulus of polymers as a function of frequency. The pack includes a flat-punch tip, a viscoelastic reference material, and a test method for evaluation of viscoelastic properties. This measurement technique is key to characterizing nanoscale polymers and polymer films that are not well-served by traditional dynamic mechanical analysis (DMA) test instruments.

 

NanoBlitz 3D

Utilizes the InForce 50 actuator and a Berkovich tip to generate 3D maps of nanomechanical properties for high-E (> 3GPa) materials. NanoBlitz performs up to 100,000 indents (300×300 array) at < 1s per indent, and provides Young’s modulus (E), hardness (H), and stiffness (S) values at a specified load for each indent in the array. The large number of tests enables increased statistical accuracy. Histogram charts show multiple phases or materials. The NanoBlitz 3D package includes visualization and data handling capabilities.   NanoBlitz 4D

Utilizes the InForce 50 actuator and a Berkovich tip to generate 4D maps of nanomechanical properties for both low-E/H and high-E (>3GPa) materials. NanoBlitz performs up to 10,000 indents (30×30 array) at 5-10s per indent, and provides Young’s modulus (E), hardness (H), and stiffness (S) values as a function of depth for each indent in the array. NanoBlitz 4D utilizes a constant strain rate method. The package includes visualization and data handling capabilities.

 

Biomaterials Method Pack

Provides the ability to measure the complex modulus of biomaterials with shear moduli in the order of 1kPa, and utilizes Continuous Stiffness Measurement (CSM). The pack includes a flat-punch tip and a test method for evaluation of viscoelastic properties. This measurement technique is key to characterizing small-scale biomaterials that are not well-served by traditional rheometer instruments.

 

Scratch and Wear Testing Method Pack

Involves the application of either a constant or a ramped load to an indenter while moving across the sample surface at a specified velocity. Scratch testing allows characterization of numerous materials such as thin films, brittle ceramics and polymers.

 

User Method Development for InView Control Software

InView is a powerful, intuitive experiment-scripting platform that can be used for designing novel or complex experiments. Experienced users can set up and perform virtually any small-scale mechanical test using the indenter system equipped with the exclusive InView option.

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