Die in-situ Indenter von KLA Instruments™ erlauben Indentationen sowie Kompressions- und andere mechanische Tests unter definierten Umgebungen innerhalb von Rasterelektronenmikroskopen (SEMs) und fokussierten Ionenstrahlsystemen (FIB) oder Stand-alone Vakuumkammern.

 

NanoFlip

Der NanoFlip Indenter misst Härte und Moduln und erlaubt vielseitige nanomechanische Tests sowohl unter Umgebungs- als auch unter Vakuumbedingungen. Darüber hinaus kann der NanoFlip auch unter optischen Mikroskopen, Rasterkraftmikroskopen (AFMs) und 3D-Profilometern eingesetzt werden.

Der NanoFlip kommt überall dort zum Einsatz, wo das synchrone Aufzeichnen von mechanischen Tests und bildgebenden Verfahren von Bedeutung ist oder zeitkritische Messungen durchgeführt werden, die für das Testen heterogener Materialien in inerten Umgebungen von entscheidender Bedeutung sind (z. B. in Gloveboxen) .

Die revolutionäre FIB-to-Test-Technologie ermöglicht es, die Probe um 90 ° zu kippen, um einen nahtlosen Übergang vom FIB zur Indentation oder Kompression zu ermöglichen, ohne die Probe entfernen zu müssen.

InSEM® HT

Das InSEM® HT-System misst die Härte, den Modul und die Steifheit bei hohen Temperaturen, indem sowohl die Spitze als auch die Probe unabhängig voneinander erhitzt werden. Die mitgelieferte InView-Software hilft fortgeschrittenen Forschern bei der Entwicklung neuartiger Experimente.

Bei Temperaturen von bis zu 800 ° C können extreme Temperaturbedingungen in situ simuliert werden, um konsistente, zuverlässige Testdaten zu erhalten. Die verwendetetn einkristallinen Wolframcarbidspitzen auf einem Molybdänhalter sind für den Einsatz in Hochtemperatur-Testanwendungen optimiert und in verschiedenen Geometrien erhältlich.

Wissenschaftliche Veröffentlichungen zeigen, dass die Ergebnisse gut mit herkömmlichen Hochtemperatur-Testdaten in großem Maßstab übereinstimmen. Die Kombination aus großem Temperaturbereich und niedrigen Betriebskosten macht den InSEM HT zu einem wertvollen Werkzeug in Forschungsprogrammen zur Materialentwicklung.

 

 

 

Eigenschaften

  • Aktuator für kapazitive Wegmessung und elektromagnetische Lastaufprägung
  • Einfach und schnell austauschbare Spitzen verschiedenster Geometrien
  • Hochgeschwindigkeits-Controller-Elektronik mit bis zu 100kHz Datenerfassungsraten und 20µs Zeitkonstante
  • Hochpräzise XYZ-Steuerung zum genauen Anfahren von Probenbereichen
  • Synchronisierung von REM-Bildern mit mechanischen Testdaten
  • Einzigartiges softwareintegriertes Spitzenkalibrierungssystem für schnelle und genaue Spitzenkalibrierung
  • InView-Steuerungs- und Datenanalysesoftware mit Windows ® 10-Kompatibilität
  • Umfassendender Editor zur einfachen Programmierung benutzerdefinierter Experimente

Optionen & Upgrades

 

Continuous Stiffness Measurement (CSM)

Das CSM-Modul kommt dann zur Anwendung wenn dynamische Effekte wie Dehnungsrate und Frequenz berücksichtigt werden müssen. Dazu wird der eindringenden Kraft ein Signal mit kleiner Amplitude aufgeprägt. Dies ermöglicht quasi eine kontinuierliche Bestimmung der Kontaktsteifigkeit und damit der Härte und des Elastizitätsmoduls des Materials in Abhängigkeit der Eindringtiefe.

AccuFilm™ Thin Film Method Pack

AccuFilm ist eine auf dem Hay-Crawford-Modell basierende InView-Testmethode zur Messung substratunabhängiger Materialeigenschaften mittels Continuous Stiffness Measurement(CSM). Bei Messungen an dünnen Filmen oder Schichten korrigiert AccuFilm den Einfluss des Substartes auf die Resultate sowohl für harte Filme auf weichen Substraten als auch für weiche Filme auf harten Substraten.

„ProbeDMA™ Polymer“ Test-Methode

ProbeDMA Bietet die Möglichkeit, den komplexen Modul von Polymeren als Funktion der Frequenz zu messen.  Diese Messtechnik dient zur Charakterisierung nanoskaliger Polymere und Polymerfilme, die auf der makroskopischen Skala wie beispielsweise durch die klassichedynamische mechanische Analyse (DMA) nicht erfasst werden können 

NanoBlitz 3D

Software-Option zum 3D-Mapping nanomechanischer Eigenschaften für „High-E“-Materialien (> 3GPa). NanoBlitz führt bis zu 100.000 Indents (300×300 Array) aus und benötigt dabei unter einer Sekunde pro Indent. Das Resultat sind Größen wie Young-Modul (E), Härte (H) und Steifigkeit (S) bei einer bestimmten Lastkraft. Die große Anzahl von Tests ermöglicht eine erhöhte statistische Genauigkeit und erlaubt Histogrammdarstellungen verschiedener Phasen oder Materialien.

NanoBlitz 4D

Software-Option zum 4D-Mapping nanomechanischer Eigenschaften für für Materialien mit niedrigem E/H und hohem E (>3GPa) zu erstellen. NanoBlitz führt bis zu 10.000 Eindrücke (30×30 Array) mit ca. 5-10s pro Indent aus und liefert beispielsweise das Youngs-Modul (E), Härte (H) und Steifigkeit (S) Werte als Funktion der Eindringtiefe für jeden Indent.

„Biomaterials“ Test-Methode

Die Biomaterials Methode bietet die Möglichkeit, den komplexen Modul von Biomaterialien mit Schermodulen in der Größenordnung von 1 kPa zu messen und verwendet dazu die CSM-Technik. Diese Messmethode kommt bei der Charakterisierung von Biomaterialien zum Einsatz, die aufgrund ihrer Größe mit herkömmlichen Rheometerinstrumenten nicht verlässlich vermessen werden können.

„Scratch and Wear“ Test-Methode

Mit dem „Scratch and Wear“ Test wird die Indenterspitze, mit einer konstanten Last oder bei kontinuierlicher Erhöhung der Last, mit einer bestimmten Geschwindigkeit über die Probenoberfläche bewegt. Die Kratzprüfung ermöglicht die Charakterisierung zahlreicher Materialien wie dünne Filme, spröde Keramiken und Polymere.

„User Method Development“-Option für die „InView“ Kontrollsoftware

„User Method Development“ ist eine leistungsstarke, intuitive Scripting-Plattform, die zum Entwerfen neuartiger oder komplexer eigener Experimente verwendet werden kann. Erfahrene Benutzer können mit dieser exklusiven InView-Option praktisch jeden denkbaren mechanischen Test selbst prgrammieren und durchführen.

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