NenoVision LiteScopeTM

Rastersonden-Mikroskop zum Einsatz im REM

 

Das NenoVision LiteScopeTM ist ein Rastersonden-Mikroskop das zum einfachen Einbau in Elektronenmikroskope entwickelt wurde.

Das System erlaubt es, eine Probenfläche simultan mit SPM und REM zu charakterisieren, unter Verwendung desselben Koordinatensystems.

Die einzigartige CPEM-Funktion (Correlative Probe and Electron Microscopy), für die ein Patent angemeldet ist, macht das LiteScopeTM zu einer leistungsstarken Erweiterung für bestehende REM’s.

Das System ist insbesondere dann effektiv wenn konventionelle SEM Techniken keine ausreichende Information über die Probe liefern und eine Erweiterung auf 3D relevant ist.

Die CPEM-Technologie, mit korrelativer Bildaufnahme, ist eine ideale Methode für korrekte Analyse und einfache Interpretation der gemessenen Bilder.

Umfassende Probenanalyse, einschließlich:

  • Charakterisierung der Probenoberfläche
  • Mechanische Eigenschaften
  • Elektrische Eigenschaften
  • Magnetische Eigenschaften

Das LiteScopeTM kann auch mit anderen REM-Zusätzen kombiniert werden:

  • FIB ( Focused Ion Beam)
  • GIS ( Gas Injection System)

Die hergestellten Nano-oder Mikrostrukturen und modifizierten Oberflächen können in dieser Kombination mit dem LiteScopeTM einfach und schnell in 3D vermessen werden.

schließen

Wählen Sie Ihr Land

Wählen Sie Ihr Land

Sie suchen nach Produkten? Dann wählen Sie bitte aus der oben aufgeführten Liste das Land aus, in dem Sie sich befinden bzw. in das wir unsere Produkte liefern sollen.

Select your country

Are you looking for products? Then select the country in which you are located or in which to deliver our products from the above list.

Sélectionnez votre pays

Vous recherchez pour les produits? Alors s'il vous plaît sélectionner dans la liste ci-dessus? Mentionné le pays dans lequel vous vous trouvez ou dans laquelle nous voulons livrer nos produits.