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Neu: NanoLab 3D, DLS für hochkonzentrierte Proben

 

Stylus-Profilometer 

- KLA-Tencor (Stylus + Optisch)

 

Single Cell Manipulation 

- FluidFM ®

 

Elektronenmikroskopie 

- Phenom

- Delphi (CLEM)

LEED/AES Spektrometrie 

- OCI

 

Nanopartikel Herstellung 

- NanoAssemblr

 

Tribologie - Nanoindentation 

- Rtec 

- Alemnis (in-situ Indenter)

 

XRF / Schichtdickenmessung

- Inficon QCM

 

 

Kontakt
Schaefer-Tec AG
Badimatte 21
Postfach 431
3422 Kirchberg, Schweiz
Telefon + 41 - 34 - 423 70 70
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