NenoVision LiteScopeTM

Microscopie à sonde locale in situ MEB

 

Le NenoVision LiteScopeTM est un microscope à sonde locale conçu pour une intégration facile dans les microscopes électroniques.

Le système permet de caractériser une surface par microscopie à sonde locale et microscopie électronique à balayage simultanément en utilisant le même système de coordonnées.

La fonction unique CPEM (Correlative Probe and Electron Microscopy) en instance de brevet est une fonction du LiteScopeTM qui améliore significativement les MEB existants.

Le système est particulièrement efficace dans les circonstances ou la microscopie électronique à balayage conventionnel ne fournit pas suffisamment d’informations sur l’échantillon et dans lequel l’utilisateur nécessite une extension d’imagerie 3D.

La technique CPEM permet avec son imagerie corrélative une approche idéale pour une analyse correcte et une interprétation simple de l’image.

Analyse complète des échantillons, y compris:

  • caractérisation de topographie de surface
  • propriétés mécaniques
  • propriétés électriques
  • propriétés magnétiques

Le LiteScopeTM peut également être combiné avec d’autres accessoires MEB:

  • Faisceau ionique focalisé (FIB)
  • Système d’injection de gaz (SIG)

Pour la fabrication de nano / microstructures et des modifications de surface. Dans cette combinaison, le LiteScopeTM offre une inspection 3D simple et rapide des structures fabriquées.

 

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